令和2年度 問26

次の記述の下線部1～5に関して、最も不適切なものはどれか。

　X線回折図計は物質の結晶構造を反映する。したがって、₁ 標準物質のデータファイルと照合することで、物質を同定することができる。複数の結晶性物質が混合している場合、その構成比を推定することができる。また、結晶の格子面間隔を正確に測定することが可能で、結晶構造が既知であれば精密な格子定数を求めることができる。これを利用して、₂ 固溶体の組成を決めることができる。
　回折線の広がりを測定することで、結晶性の良否を調べることができる。例えば、₃ 多結晶体の構成粒子が数組だと、回折線の広がりから結晶子怪を求めることができる。また。₄ 繊維状の結晶粒子が配向した材料では、回折線により強度が変化することから、配向性を評価することはできない。
　リートベルト（Rietveld）法は、粉末試料の回折パターンを計算による回折バターンと比較して結晶構造を解析する手法で、₅ 単結晶試料が得られない場合でも結晶構造が予想されていれば、構造を精密化できる。